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QFN三温老化座

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信息简介:QFN三温老化座

详细信息:
“QFN三温老化座”参数说明
“QFN三温老化座”详细介绍
QFN8三温测试座根据客户提供的DFN芯片参数来设计测试座,会根据他的频率和温度要求来采用接地探针的数量,DFN8三温测试座特点及性能参数:
◆采用手动翻盖式结构,操作方便;
◆上盖的IC压板采用摆动式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
◆采用探针稳定,接触可靠
◆高精度的定位槽,保证IC定位精确,测试效率高;
◆测试准确性高,大大减少误判率;
◆采用进口双头针,探针可更换,维修方便,成本低; ? ? ?
◆绝缘材料:Torlon、PEI、PEEK,限位框铝合金材料制作;
◆测试频率可达1066M Hz;
◆温度范围-55度~165度?
◆测试寿命长,有效***0万次以上;
◆可以免费提供相关的技术支持。
产品服务:
※半年免费保修(人为损坏除外)。
※保修期外,免费维修,如果需换件,只收材料成本费。
※可以免费提供相关的技术支持。
客户提供DFN芯片,就可以定做,另客户提供产品或者测试板,可给您做成治具
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